ED-300E比重天平/密度计/比重计/密度天平
ED-300E比重天平/密度计/比重计/密度天平适用行业:橡胶、塑料、玻璃、电线电缆、鞋业贵金属、硬合金、复合材料...等ED-300E比重天平/密度计/比重计/密度天平数据读取:比重值
TC-MFY-01密封性测试仪
TC-MFY-01密封性测试仪用于食品、制药、医疗器械、日化、汽车、电子元器件、文具等行业的包装袋、瓶、管、罐、盒等的密封试验。亦可进行经跌落、耐压试验后的试件的密封性能测试。
TC-WSB-3Y微机型荧光白度仪
微机型荧光白度仪由光源、光学系统、探测系统、微机数据处理与显示系统等构成。定义光谱漫反射击比均为1的理想表面的白度为100,光谱漫反射比均为零的黑表面白度为0。
晶圆缺陷检测系统LODAS
列真公司在半导体光罩检测设备上积累了独自技术, 主产品 LODAS ™系列具有日本专利权的激光检测技术,可同时探测收集激光的反射光,透射光以及共聚焦,可一次性检查第三代半导体 SIC 等材料表面,背面和内部的缺陷,可探测最小缺陷为10
磁化率仪/磁化率天平
用于测量物质的磁化率(固体、液体和气体皆可)。只需少量样品(50mg-250mg),即可快速测量出顺磁和抗磁物质的磁化率。机器轻便(主机2.2kg),方便携带。
薄膜应力测量系统
MOS美国专利技术!曾荣获2008 Innovation of the Year Awardee! 采用非接触MOS激光技术;不但可以精确的对样品表面应力分布进行统计分析,而且还可以进行样品表面二维应力、曲率成像分析;